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本文选用不同的方法对两个导线线圈进行了射线检测,主要采用透射式工业CT检测和康普顿背散射成像检测两种射线层析检测方法,有效检测了导线线圈内部的缺陷情况,并指出射线层析检测作为一项新技术和新手段,可充分应用在航天产品的无损检测中.
作者：杨宝刚；李建伟；任华友；金虎
来源：CT理论与应用研究 2005 年 14卷 1期
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