目的:分析探讨不同部位脑电图异常的热性惊厥患儿对后期癫痫发生的影响.方法:收集我院于2016年11月至2018年11月期间收治的100例热性惊厥患儿的临床资料,根据其脑电图检查结果将分为脑电图正常组(63例)、脑电图异常组(37例).分析脑电图异常组患儿中不同部位的脑电图异常率以及患儿后期出现癫痫事件的发生率.结果:脑电图异常患儿有37例(37.00%),其中局灶性异常患儿16例(43.24%),弥漫性异常患儿21例(56.76%);局灶性异常患儿中顶枕叶区异常患儿有7例(18.92%),额颞叶区异常患儿有9例(24.32%).额颞叶区异常和顶枕叶区异常患儿的异常率均显著低于弥漫性异常率(χ2=9.374,χ2=11.293,均P<0.05).共有12例(12.00%)患儿出现后期癫痫,均来自于脑电图异常组,其中有7例(77.78%)患儿为额颞叶区脑电图异常患儿,3例(14.29%)患儿为弥漫性脑电图异常患儿,有2例(28.57%)患儿为顶枕叶区脑电图异常患儿,其中弥漫性异常患儿的后期癫痫发生率显著低于额颞叶区异常患儿(χ2=11.203,P<0.05).结论:热性惊厥患儿当中额颞叶区出现脑电图异常的患儿后期更容易出现癫痫,参考价值较高,值得在临床上加以推广运用.
作者:肖冠华;吴娜
来源:河北医学 2020 年 26卷 5期