目的 评估XP-endo Finisher(XPF)锉与被动超声冲洗(PUI)对根管内壁玷污层的清除效果.方法 选择60颗离体单直根管下颌前磨牙,距根尖16 mm处截冠,采用S3镍钛锉预备到3S,根据终末处理方式不同将样本随机分成6组.A组:3 mL 3％次氯酸钠溶液联合XPF处理1 min;B组:3 mL 3％次氯酸钠溶液联合XPF处理1 min,再用4 mL 17％乙二胺四乙酸(EDTA)溶液冲洗1 min;C组:3 mL 3％次氯酸钠溶液联合PUI处理1 min;D组:3 mL 3％次氯酸钠溶液联合PUI处理1 min,再用4 mL 17％EDTA溶液冲洗1 min;E组:3 mL 3％次氯酸钠溶液30号侧方冲洗针冲洗1 min;F组:3 mL 3％次氯酸钠溶液30号侧方冲洗针冲洗1 min,再用4 mL 17％EDTA溶液冲洗1 min.采用扫描电子显微镜观察玷污层形态,并比较根尖1/3区、根中1/3区牙本质小管开口数.结果 A、C、E组实验样本整个根管壁都有玷污层覆盖,A组与C组牙本质小管开口数明显高于E组(P＜0.05),而A组与C组的差异无统计学意义(P＞0.05);F组根中区、B组和D组根尖区有少量玷污层覆盖,牙本质小管开放或半开放;F组根尖区可见玷污层,牙本质小管封闭或半封闭;B和D组根中区根管壁玷污层均被有效去除;在根尖1/3区和根中1/3区,B组与D组牙本质小管开口数高于其他4组(P＜0.05),而B组和D组间的差异无统计学意义(P＞0.05).结论 XP
作者：辛悦；杨健；宋矿余
来源：华西口腔医学杂志 2019 年 37卷 1期
