目的：比较在高糖和低糖培养条件下，经半硫芥（CEES）染毒后支气管上皮细胞（16HBE）能量代谢的变化。方法采用高糖（4．5 mg/ml）和低糖（1．1 mg/ml）两种不同培养基培养16HBE细胞。 MTS法比较细胞增殖和CEES染毒后6 h细胞活性差异；用不同剂量CEES染毒两组细胞，24 h后HPLC检测胞内ATP、ADP、AMP含量，并计算ATP/ADP比值、腺苷酸池（总腺嘌呤核苷酸， total adenine nucleotides ， TAN）及能荷值（能量负荷值，energy charge， EC），Western印迹检测线粒体能量代谢功能酶COX-10和ISCU变化；流式细胞仪检测0．5 mmol/L CEES染毒后5、8、12、24 h时相点线粒体膜电位（MMP）变化。结果低糖培养的16HBE细胞的增殖明显增加，能量代谢指标ADP、TAN、COX-10和ISCU显著高于高糖组。高于0．5 mmol/L染毒剂量的CEES能显著降低高糖、低糖培养的16HBE细胞的活性，且在1．0 mmol/L下两组间差异有显著意义。高糖组在0．5、1．0 mmol/L染毒24 h后，ATP、ADP、TAN显著增高，而ATP/ADP比值及EC显著降低。低糖组在1．0 mmol/L染毒24 h后，ADP、AMP、TAN显著低于染毒前，而ATP/ADP比值及EC显著高于染毒前。在0．5 mmol/L CEES染毒下，高糖组线粒体膜电位在8～12 h显著增加，其后至24 h时恢复至正常水平。低糖组MMP在5

作者：叶枫；但国蓉；王健；赵远鹏；赵吉清；邹仲敏

来源：军事医学 2014 年 3期