目的:探讨新生儿低血糖脑损伤临床特征及高危因素.方法:将35 例新生儿低血糖并发脑损伤患儿与87例低血糖无脑损伤患儿临床资料进行对比分析,对相关危险因素采用单因素及多因素回归分析.结果:新生儿低血糖并发脑损伤常见临床表现为惊厥、嗜睡、呼吸异常、肌张力减低,头颅MRI 表现为顶枕部皮层受累.单因素分析显示:胎龄、出生体质量,出生5minApgar 评分、延迟喂养、血糖水平、低血糖持续时间,惊厥与新生儿低血糖脑损伤有关(P <0.05).多因素回归分析显示:5 minApgar 评分(<5 分)、延迟喂养(生后24 h)、低血糖程度(≤1.5 mmol/L)、低血糖持续时间>12 h、新生儿惊厥与新生儿低血糖脑损伤有关(P <0.05).结论:新生儿惊厥、低血糖程度(≤1.5 mmol/L)、5minApgar 评分(<5 分)、低血糖持续时间>12 h、延迟喂养(生后24h),是新生儿低血糖脑损伤高危因素.新生儿低血糖需早期发现、早期干预,以减少脑损伤发生.
作者：路琰；李晓春；孔少云
来源：陕西医学杂志 2017 年 46卷 9期
