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目的:验证牙菌斑中超氧化物阴离子自由基与菌斑氧化还原电位的关系.方法:①测试菌斑氧化还原电位.②利用SOD作为干扰因素观察氧化还原电位的变化.结果:菌斑电位低于非菌斑牙面电位,为负电位.菌斑加SOD后使菌斑电位升高.结论:菌斑负电位与超氧化物阴离子自由基有关,自由基可能是菌斑负电位形成的主要因素.
作者：阎鹏；黄力子；王成龙；唐荣银；李刚；李洁
来源：实用口腔医学杂志 1999 年 15卷 4期
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