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新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是新生儿期发病率较高又可导致死亡或致残的严重疾病.由于磁共振成像有极好的对比分辨率,并且无创、无X线辐射的危害,因此是HIE最适合的影像学检查方法.近年来随着磁共振成像技术的飞速发展,特别是磁共振成像的功能成像如扩散加权成像、灌注成像、扩散张量成像、磁共振波谱成像等新技术的出现为更加深入地研究HIE的病理基础提供了可能,为早期准确诊断及评估预后提供了一种可靠的手段和方法.现将磁共振成像新技术对新生儿HIE的临床应用价值及研究进展予以综述.

作者:殷麟;鲍海华

来源:医学综述 2009 年 15卷 14期

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殷麟;鲍海华
来源:
医学综述 2009 年 15卷 14期
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新生儿 缺氧缺血性脑病 磁共振成像
新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是新生儿期发病率较高又可导致死亡或致残的严重疾病.由于磁共振成像有极好的对比分辨率,并且无创、无X线辐射的危害,因此是HIE最适合的影像学检查方法.近年来随着磁共振成像技术的飞速发展,特别是磁共振成像的功能成像如扩散加权成像、灌注成像、扩散张量成像、磁共振波谱成像等新技术的出现为更加深入地研究HIE的病理基础提供了可能,为早期准确诊断及评估预后提供了一种可靠的手段和方法.现将磁共振成像新技术对新生儿HIE的临床应用价值及研究进展予以综述.