为从基因水平上揭示正加速度(+Gz)高耐力产生机理及寻找+Gz高耐力相关功能性蛋白,利用抑制消减杂交技术分离+Gz高耐力相关基因.雄性SD大鼠在离心机上处理后,选取耐受终点在高、低两个极端的动物,立即取全脑,分离mRNA.以高耐力者为Tester,低耐力者为Driver,利用抑制消减杂交技术进行+Gz耐力处于高、低两个极端动物脑组织间基因表达差异显示,获得+Gz高耐力大鼠脑组织相关cDNA.以高、低耐力大鼠脑组织mRNA来源的cDNA为探针,对获得的cDNA克隆进行斑点杂交.分别以杂交筛选出的阳性克隆为探针,对高、低耐力大鼠脑组织总RNA进行Northern杂交分析.两次杂交结果均选择高耐力组杂交信号是低耐力组3倍以上的cDNA克隆.经过斑点杂交筛选,从大鼠脑组织中获得了67个在+Gz高耐力大鼠脑组织中上调表达的cDNA克隆.Northern杂交分析发现,钙离子/钙调蛋白依赖性蛋白激酶Ⅱβ亚基(Camk2b)和一未知基因在+Gz高耐力大鼠脑组织中的表达量增加.结果提示,+Gz耐力处于高、低两个极端的大鼠脑组织基因表达有明显差异,这些差异表达的基因很可能与+Gz高耐力的产生有关,且钙离子/钙调蛋白依赖性蛋白激酶Ⅱβ亚基和一未知基因是初步获得的与+Gz高耐力的产生特异相关的基因.
作者：王晓丽；刘丽；刘建斌；王烨；曹颖
来源：中国生物化学与分子生物学报 2001 年 17卷 6期
