[目的]研究HCl-K3[Fe(CN)6]-KBH4体系氢化物发生--原子荧光光谱法测定铅时,铁氰化钾试剂质量对分析性能的影响.[方法]观察铁氰化钾空白溶液荧光信号的变化,研究空白荧光信号产生的原因及降低的方法.[结果]证实铁氰化钾试剂中杂质铅是导致试剂空白溶液荧光信号产生的原因之一.[结论]分析纯铁氰化钾中含有杂质铅,给分析过程中带入的偶然误差是产生噪声的离散源,影响检出限.活性碳可有效吸附分离铁氰化钾试液中的铅,降低空白溶液的荧光信号,改善分析方法检出限.
作者：陶锐；高舸
来源：中国卫生检验杂志 2004 年 14卷 3期
