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脑损伤是造成儿童残疾和死亡的主要原因之一,早期客观评估患儿病情变化对改善预后意义重大。近红外光谱技术(NIRS)是一项利用近红外光监测局部脑氧饱和度(rcSO 2)的脑功能成像技术,具有无创、实时、连续监测rcSO 2等优势。NIRS可以在床旁为脑损伤患儿提供更多关于脑的氧供信息,及时发现脑血氧信息的异常,其合理的使用可以为脑损伤患儿的临床诊断、治疗和预测预后等方面提供重要信息。本文概述了NIRS的基本信息,并对其在儿童脑损伤的应用情况以及最新进展进行综述,以期为NIRS在儿童脑损伤的临床应用提供参考。

作者:罗华裕;黄琴蓉;肖农

来源:中华物理医学与康复杂志 2022 年 44卷 10期

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作者:
罗华裕;黄琴蓉;肖农
来源:
中华物理医学与康复杂志 2022 年 44卷 10期
标签:
近红外光谱技术 脑损伤 局部脑氧饱和度 儿童
脑损伤是造成儿童残疾和死亡的主要原因之一,早期客观评估患儿病情变化对改善预后意义重大。近红外光谱技术(NIRS)是一项利用近红外光监测局部脑氧饱和度(rcSO 2)的脑功能成像技术,具有无创、实时、连续监测rcSO 2等优势。NIRS可以在床旁为脑损伤患儿提供更多关于脑的氧供信息,及时发现脑血氧信息的异常,其合理的使用可以为脑损伤患儿的临床诊断、治疗和预测预后等方面提供重要信息。本文概述了NIRS的基本信息,并对其在儿童脑损伤的应用情况以及最新进展进行综述,以期为NIRS在儿童脑损伤的临床应用提供参考。