目的 探讨磁共振弥散张量成像技术(DTI)在轻中度脑损伤中的应用,推断锥体束损伤的程度,并通过DTI的动态观察预测锥体束损伤后中长期的预后.方法 2016年10月至2018年10月轻中度脑外伤患者25例,采用GE公司的Signa 1.5T HDX型超导型磁共振扫描仪,常规扫描方向是横断及冠状位,DTI扫描应用自旋-平面回波技术,扫描方向为横断及冠状.采集DTI数据,额叶和额颞叶复合损伤,通过测量外伤病灶侧及非病灶侧的FA值,观察病灶远端神经束的FA值的变化.对颞叶损伤累及内囊的患者,在大脑脚水平测量病灶侧及非病灶侧FA值.结果 额叶和额颞叶复合损伤患者,外伤病灶侧神经束FA值明显低于非病灶侧.测量大脑脚FA值,病灶侧神经束明显低于非病灶侧.额前叶神经束病侧FA值较健侧明显下降(0.45±0.06 vs 0.50±0.05),差异有统计学意义(P<0.05).在大脑脚水平,病灶侧FA平均值为0.38,非病灶侧平均值为0.48,两者平均值相差0.1.在锥体束受累及的4例中,有偏侧肢体运动功能障碍.结论 额前叶神经束受损,可以产生认知功能的部分缺失,受损的额前叶神经束,远端4～8周后可发生华勒氏变性,表现为T1W1等低信号,T2W1、FLAIR高信号,DWI呈等或稍高信号.通过测量远端神经束的FA值可以判定神经束受损的程度.累及锥体束的患者可以导致偏侧肢体运动功能障碍.磁
作者：潘孝根；李捷；潘海鹏；赵凯宇；劳群
来源：浙江临床医学 2021 年 23卷 5期
