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目的:观察高温对下丘脑神经元延迟整流性K+通道(IK)的影响.方法:采用膜片钳技术的细胞贴附记录模式,记录IK的活动动力学. 结果:在32℃、37℃、39℃下,随温度升高,新生SD大鼠IK的电导、长时程开放时间常数(τo2)、开放概率(Po)升高(P＜0.05),出现较多的簇状开放和多级开放,热损伤(43℃)处理后,通道活动出现多形式开放,电压依赖程度减弱或丧失.结论:下丘脑神经元IK可能参与机体的发热和中暑发病过程.
作者：蔡春青；邹飞
来源：中国病理生理杂志 2000 年 16卷 2期
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