目的:探讨首发精神分裂症(SZ)患者前额叶皮质各部MRI T2信号强度值的变化,为SZ的临床早期诊断提供影像学帮助.方法:收集首发SZ患者34例和健康对照组35例.所有受试者均行快速自旋回波T2序列,并在工作站上手动勾画前额叶皮质各亚区ROI,测量其T2信号强度值.分析T2信号强度与阳性和阴性症状量表(PANSS)评分的相关性.结果:SZ患者额上回T2信号强度值与对照组比较差异有统计学意义(t=2.17,P<0.05);额极、额中回、额下回T2信号强度值与对照组比较差异均无统计学意义(t=1.05、0.61、0.87,均P>0.05).额上回T2信号强度值与PANSS阴性症状分数、PANSS总分均呈正相关(r=0.54、0.51,均P<0.01).结论:额上回T2信号强度值的改变,可为SZ早期诊断提供影像学帮助.
作者：张媛；宋慧慧；顾卫国；孙洪言；贾金星
来源：中国中西医结合影像学杂志 2018 年 16卷 3期
