上海"6.25"辐射事故受照者14年染色体畸变随访研究-临床诊疗知识库

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作者：

陈英；周平坤；刘秀林；张学清；杜杰；闫学昆；吴德昌

来源：

癌变·畸变·突变 2008 年 20卷 2期

标签：

染色体畸变 G-显带核型分析荧光原位杂交辐射远后效应

背景与目的:1990年上海"6.25"60co源辐射事故中2例重度、3例中度骨髓型急性放射病患者被救治成功.为了阐明放射病的远后效应,对该5名受照者连续进行照后14年的染色体畸变随访观察,为辐射远后效应评价积累资料.材料与方法:常规染色体畸变分析、G-显带自动核型分析以及用全染色体涂染探针进行FISH分析,检测非稳定性畸变(Cu)和稳定性畸变(Cs),并将历年检测结果进行比较.结果:照后3.5年染色体Cu畸变降至初始水平的20

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