目的:探讨新生儿低血糖脑损伤的MRI特征及扩散加权成像(DWI)在低血糖脑损伤诊断中的应用价值.方法:回顾性分析13例经临床确诊的新生儿低血糖脑损伤病例的MRI资料,所有病例均在出生后38h~7d行MRI检查,扫描序列包括常规T1WI、T2WI及DWI序列.结果:常规T1WI表现为受累部位稍低信号4例,稍高信号2例;9例T2WI表现为受累部位稍高信号或灰白质分界不清.13例在DWl图上出现异常高信号,受累部位在ADC图上呈低信号(其中2例低信号范围内出现部分高信号),受累脑区包括双侧枕顶叶皮层及皮层下脑白质10例、双侧顶枕叶皮层下脑白质1例、双侧颠叶后部皮层下脑白质4例、双侧额叶后部皮层下脑白质4例、胼胝体压部13例(整个胼胝体受累1例)、双侧内囊后肢5例、双侧内囊前肢1例、双侧外囊1例、脑干1例,13例中10例病变呈对称性分布.结论:新生儿低血糖脑损伤以双侧枕顶叶后部脑组织及胼胝体压部最常受累,常对称性分布,具有一定特征性.DWI序列较常规T1 WI及T2WI序列在低血糖脑损伤的诊断及评估上更具优越性.
作者：向永华；金科；何四平；陈桦；王海；伍光春
来源：放射学实践 2012 年 27卷 8期
