缺血缺氧性脑病(HIE)是新生儿常见病,可引起早期死亡,继发脑瘫、智力低下、癫日等神经系统症状.MRI技术被公认为是诊断新生儿 HIE 及评估神经损害程度最有价值的影像学方法.尤其近年来,新的MRI技术如扩散加权成像、灌注成像、磁共振波谱、扩散张量成像及磁敏感成像等技术的快速发展,使 MRI 不仅可以观测HIE的形态学变化特点,而且可以反映HIE的病理过程及分子学变化.针对MR常规技术及新技术在新生儿缺血缺氧性脑病中的应用研究及进展作一综述.
作者：孟琳琳；王青*
来源：国际医学放射学杂志 2012 年 5期
