目的：探讨高频或低频重复经颅磁刺激（rTMS）治疗对抑郁障碍患者局部脑内代谢物质的影响。方法：随机将40例抑郁障碍患者分成高频和低频 rTMS 组并进行相应的 rTMS 治疗4周。治疗前后应用汉密尔顿抑郁量表（HAMD）评定患者的病情，应用氢质子磁共振波普成像（1 H-MRS）检测前额叶皮质 N-22乙酰天门冬氨酸（NAA）、谷氨酸（Glx）、胆碱复合物（Cho）及肌酸（Cr）代谢物水平，并与20名正常对照者（对照组）比较。结果：两 rTMS 组分别有12例患者完成治疗，治疗后两组 HAMD 评分显著低于治疗前（P 均﹤0.01）。与对照组比较，治疗前两 rTMS 组左侧前额叶皮质 NAA/ Cr、Glx/ Cr、右侧前额叶皮质 NAA/ Cr 显著降低（P 均﹤0.01），治疗后都有明显升高（P 均﹤0.05）。结论：抑郁障碍患者双侧前额叶 NAA 及左侧前额叶 Glx 水平降低；高、低频 rTMS 治疗后患者双侧前额叶 NAA 及左侧前额叶 Glx 水平提高，可能是 rTMS 治疗抑郁障碍的机制之一。
作者：朱程；徐乐平；孙剑；惠李；刘林晶
来源：临床精神医学杂志 2017 年 27卷 1期
