介绍了扫描近场光学(SNOM-Scanning Near-Field Optical Microscope)/原子力显微镜(AFM-Atomic Force Microscope)系统(SNO/AM)的工作原理.在AFM模式和SNOM模式下对DNA分子进行成像和荧光探测,得到了清晰的DNA单分子的形貌像和荧光像.由形貌图像得到的DNA分子尺寸横向为20 nm,高度为2 nm,其中包含了探针形貌的影响.实验中采用Tapping模式的AFM成像,样品经多次搜索扫描无明显损坏.AFM模式的分辨率优于1nm.SNOM模式下DNA分子形貌像和荧光像清晰,由近场荧光分布可以确定分子取向和浓度.用YOYO-1染料对λDNA分子进行染色和荧光探测.通过对DNA分子多个截面进行测量,分析染料与DNA结合状态.
作者：王佳；村松宏；山本典孝；K.SAKATA-SOGAWA；N.SHIMAMOTO
来源：生物物理学报 2001 年 17卷 2期
