目的 探讨电刺激对缺氧缺血性脑损伤(HIBD)新生大鼠额叶皮质神经元超微结构及突触超微结构的影响.方法 新生7日龄健康SD大鼠60只,随机分成缺氧缺血组(模型组)、电刺激组(干预组)及假手术组(对照组),每组各20只.采用结扎左侧颈总动脉并吸人氮氧混合气体2 h制作新生大鼠HIBD模型.干预组大鼠于于术后第2天开始给予电刺激,30 min/次,1次/d,电刺激小脑顶核时长分刖为3、14、21 d,模型组、对照组不予电刺激,相应时段仅予捕捉固定.电刺激结束后,分别于相应时段各组各取5只大鼠处死.应用透射电镜观察大脑额叶皮质神经元超微结构及突触超微结构的变化.结果 模型组额叶皮质神经元细胞发生固缩性改变,细胞器数量减少,细胞质水肿明显,线粒体肿胀明显,突触数量减少,突触间隙融合不清,突触小泡明显减少;与模型组同时间相比,干预组神经元细胞线粒体水肿明显减轻,突触间隙较清楚,突触小泡增加,至21 d时神经细胞及突触趟微结构接近正常.结论 电刺激可促进HIBD脑组织神经元及突触的超微结构恢复.
作者：李文霞；曹娟；代红；贾天明
来源：实用儿科临床杂志 2009 年 24卷 2期
