目的 探讨孤独症谱系障碍(ASD)儿童表情面孔工作记忆能力及其事件相关电位(ERP)的特点.方法 以中国面孔表情图片系统为测试材料,采用事件相关电位系统分别记录16例6～12岁ASD儿童(ASD组)与14例年龄匹配的正常儿童(对照组)在完成表情面孔延迟样本匹配任务时的脑电成分,分析两组儿童脑电P3b成分的特点.结果 ASD组儿童在表情面孔工作记忆任务中的总体反应时比对照组长(1527 msvs 1060 ms,P＜0.05)、正确率比对照组低(76％ vs 88％,P＜0.01).ASD组和对照组间编码加工阶段的P3b成分波幅存在差异.ASD组左侧电极的P3b成分波幅值高于右侧电极波幅(P＜0.05),而对照组无此特点.结论 学龄期ASD儿童在表情面孔编码加工阶段的P3b成分异于正常发育儿童,其表情面孔工作记忆过程可能更多地依赖于左半球相关的神经通路.
作者：许才娟；张玲；潘宁；林琼希；叶俊；静进；金宇
来源：中国当代儿科杂志 2017 年 19卷 3期
