目的：分析1例孤独症谱系障碍(autism spectrum disorder,ASD)患儿的临床表现和基因突变,探讨 DIAPH3基因的新发突变与 ASD 发病风险及发病机制的关系。方法首先对患儿进行神经检查、精神评估等,然后抽取患儿及其父母的外周血行全外显子组测序,以明确致病基因突变。结果先证者的临床评估提示患者属于典型 ASD,通过全外显子组测序确认4个候选基因,包括 TUT1、DIAPH3、RELN 和 SETD2。发现DIAPH3基因第18外显子 c.2156T>C(pI719T)错义突变,该突变位于 FH2保守结构域；检测到TUT1无义突变,该突变可能破坏了 TUT1/ Lin28A 调节通路的正常功能。发现 RELN基因3个同义突变；SETD2基因第15外显子 c.6895G>A(p.G2299R)错义突变。患儿父母的 Sanger 测序结果未检测到DIAPH3与SETD2的错义突变,表明患儿的两个错义突变均为新生突变。结论DIAPH3与SETD2的错义突变可能增加患自闭症的风险。与DIAPH3和SETD2突变相关的神经发育与神经突触形成受损可能是 ASD 潜在的发病机制。
作者：谢江；李桦；朱华；黄丽；李红霞；张希玲；周咏梅；周嫱；许文明
来源：中华医学遗传学杂志 2016 年 33卷 4期
