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目的：基于高精度X荧光分析仪的应用研究。方法介绍了新一代IED-2000D型高精度XRF快速分析仪在青海某地铜矿的应用，并采用特散比法、分支比法对基体效应、谱线重叠效应进行效正。结果 X荧光技术是一种快速、经济、有效的方法。结论适合边远高寒地区铜矿石的测定。
作者：曹发明；赖万昌；贾雪辉；郑秀红；杨中建
来源：广东微量元素科学 2014 年 3期
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